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根据SSPC-PA2，II型测厚仪是（）A、非磁性恒压探头测厚仪B、磁性恒压探头测厚仪C、磁性拉伸测厚仪D、上述所有测厚仪E、非上述所有测厚仪
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用于校准涡流干膜测厚仪的薄片必须是（）。A、已知厚度的导电材料B、已知厚度的非金属材料C、金属或非金属材料D、类型I校准中所用的同样材料
按照SSPC-PA 2，为了校准仪器，所有的电子型干膜测厚仪均为类型2测厚仪。
SSPC-PA2要求查证电磁干膜测厚仪的校准情况有（）。A、一天校准一次B、离塑料薄片边缘的距离不少于3英寸C、每天使用前和使用后校准D、在导电底材上进行校准
在ASTM D4128中描述的，采用破坏性方式测量干膜厚的仪器不包括下面哪一种仪器？（）A、精密切槽机B、托克仪C、SAberg钻孔机D、类型II干膜测厚仪
以下哪种仪器不能用于输变电构支架涂覆层厚度检测（）A、磁性镀层测厚仪B、磁感应涡流两用镀层测厚仪C、超声波测厚仪D、涡流镀层测厚仪
采用破坏性测试，测量非金属底材上涂层的干膜厚，可使用（）？A、油漆检查（托克）仪B、类型2磁性干膜测厚仪C、涡流仪D、类型1磁性干膜测厚仪
